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膜表面瑕疵检测目标识别算法

统计模式识别(SPC)和句法模式识别(SFR)是光学筛选机的两种基本模式识别算法。

统计模式识别算法是模式的统计分类方法,是将模型识别技术与贝叶斯统计概率决策系统相结合,也称为决策理论识别方法。

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句法(结构)模式识别算法的基本思想是将模式描述为子模式的简单组合,而子模式又可以进一步描述为子模式的简单组合。最后,得到了一个树结构描述,并利用模式和子模式的层次结构的树信息来完成模式识别任务。数字图像的识别通常应用于统计模式识别,而句法模式识别主要用于遥感图像识别、字符识别等。目前,基于机器视觉的重庆膜表面瑕疵检测主要涉及统计模式识别。

统计模式识别可分为有监督学习模式识别和无监督学习模式识别。前者基于已知类标签的特征集(训练集);后者又称聚类,不需要已知类别的训练集。分类器根据特征向量之间的相似性将待分类的特征向量集划分为若干子集。


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